{"source":"doffin","operation":"search_doffin","parameters":{"query":"Environmental Atomic Force Microscope","limit":25,"offset":0},"data":{"total_count":1,"hits":[{"id":"2018-140770","buyer":[{"id":"8fc0ca3c6e30f94c4354cee574e45260","organization_id":"974 767 880","name":"Norges Teknisk Naturvitenskapelige universitet (NTNU), Innkj\u00f8p"}],"heading":"Environmental Atomic Force Microscope","description":"Vi planlegger \u00e5 anskaffe et state-of-the art SPM instrument, inkludert programvare og drivere. Systemet vil bli brukt for \u00e5 studere de elektroniske nanoskala egenskapene til funksjonelle oksider ved h\u00f8ye temperaturer i en kontrollert atmosf\u00e6re. I tillegg til nanoskala oppl\u00f8sning av topografiske egenskaper i AFM-modus vil instrumentet gi mulighet til \u00e5 kartlegge et vidt spektrum av elektroniske egenskaper ved bruk av avanserte teknikker som f. eks. cAFM, PFM, MFM, KPFM, og EFM blant flere (see appendiks 1 for detaljer). Forskningen som skal gjennomf\u00f8res krever at eksperimentene blir gjennomf\u00f8rt ved temperaturer \u2273 280 oC, samtidig som atmosf\u00e6rens trykk og sammensetning (f. eks. argon, oksygen eller nitrogen) m\u00e5les og kontrolleres med h\u00f8y presisjon.","location_id":["NO060"],"estimatedValue":{"currencyCode":"NOK","amount":3680000.0},"type":"ANNOUNCEMENT_OF_COMPETITION","allTypes":["COMPETITION","ANNOUNCEMENT_OF_COMPETITION"],"status":"EXPIRED","issueDate":"2018-05-09T10:00:00Z","deadline":"2018-06-18T12:00:00Z","sentToTed":true,"publicationDate":"2018-05-09","placeOfPerformance":[],"procurementStrategicLabels":[]}]},"entities":[{"type":"procurement","id":"2018-140770","namespace":"doffin:notice","canonical_id":"doffin:notice:2018-140770","name":"Environmental Atomic Force Microscope","description":"Vi planlegger \u00e5 anskaffe et state-of-the art SPM instrument, inkludert programvare og drivere. Systemet vil bli brukt for \u00e5 studere de elektroniske nanoskala egenskapene til funksjonelle oksider ved h\u00f8ye temperaturer i en kontrollert atmosf\u00e6re. I tillegg til nanoskala oppl\u00f8sning av topografiske egenskaper i AFM-modus vil instrumentet gi mulighet til \u00e5 kartlegge et vidt spektrum av elektroniske egenskaper ved bruk av avanserte teknikker som f. eks. cAFM, PFM, MFM, KPFM, og EFM blant flere (see appendiks 1 for detaljer). Forskningen som skal gjennomf\u00f8res krever at eksperimentene blir gjennomf\u00f8rt ved temperaturer \u2273 280 oC, samtidig som atmosf\u00e6rens trykk og sammensetning (f. eks. argon, oksygen eller nitrogen) m\u00e5les og kontrolleres med h\u00f8y presisjon.","source":"doffin","attributes":{"status":"EXPIRED"},"relationships":[{"type":"buyer","target":{"type":"organization","id":"974 767 880","namespace":"no:orgnr","canonical_id":"no:orgnr:974 767 880","name":"Norges Teknisk Naturvitenskapelige universitet (NTNU), Innkj\u00f8p"}}],"_links":{"wiki":"https://allemannsdata.com/wiki/anskaffelse/2018-140770/","api":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/anskaffelser/2018-140770"}},{"type":"organization","id":"974 767 880","namespace":"no:orgnr","canonical_id":"no:orgnr:974 767 880","name":"Norges Teknisk Naturvitenskapelige universitet (NTNU), Innkj\u00f8p","description":"Buyer linked from the procurement notice.","source":"doffin","_links":{"wiki":"https://allemannsdata.com/wiki/selskap/974%20767%20880/","api":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/selskaper/974%20767%20880"}}],"_meta":{"retrieved_at":"2026-11-03T02:44:20Z","language":"en","content_languages":["en"],"sources":[{"id":"doffin","name":"Doffin and TED","description":"Search Norwegian and European public procurement, notices and CPV codes.","cache_ttl_seconds":60}],"cache":{"hit":false,"stored_at":"2026-11-03T02:44:20Z","expires_at":"2026-11-03T02:45:20Z","ttl_seconds":60,"remaining_ttl_seconds":60,"age_seconds":0,"scope":"process"},"result_count":1,"requested_limit":25,"possibly_truncated":false,"pagination":{"limit":25,"offset":0,"returned":1,"has_more_results":false,"next_offset":null,"total_available":1},"total_available":1,"response_size_ceiling_bytes":65536,"response_size_ceiling_enforced":true},"_provenance":{"data":{"source":"doffin","source_api":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/kilder/doffin"},"entities":{"source":"doffin","source_api":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/kilder/doffin","derived_from":"#/data","description":"Normalized projection of data."}},"_links":{"self":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/kilder/doffin/search_doffin?offset=0&query=Environmental+Atomic+Force+Microscope","source":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/kilder/doffin","wiki":"https://allemannsdata.com/wiki/kilder/doffin/search_doffin/?query=Environmental+Atomic+Force+Microscope&limit=25&offset=0","feedback":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/feedback"},"output_fields":["total_count","hits","hits[].id","hits[].heading","hits[].description","hits[].buyer","hits[].buyer[].id","hits[].buyer[].organization_id","hits[].buyer[].name","hits[].type","hits[].allTypes","hits[].status","hits[].issueDate","hits[].deadline","hits[].publicationDate","hits[].sentToTed","hits[].estimatedValue","hits[].estimatedValue.currencyCode","hits[].estimatedValue.amount","hits[].location_id","hits[].placeOfPerformance","hits[].possible_placeholder","note","hits[].procurementStrategicLabels"],"output_fields_truncated":false,"canonical_field_aliases":{"identifier":["hits[].id","hits[].buyer[].id"],"name":["hits[].heading","hits[].buyer[].name"]}}