{"source":"doffin","operation":"search_doffin","parameters":{"query":"Atomic Force Microscope","limit":25,"offset":0},"data":{"total_count":4,"hits":[{"id":"2018-358893","buyer":[{"id":"18631b19c6c78c4207be91b9fcf79413","organization_id":"970 422 528","name":"UiT Norges arktiske universitet"}],"heading":"Atomic Force Microscope","description":"UiT \u00f8nsker \u00e5 anskaffe et atomkraftmikroskop til bruk i forskning. Det er sv\u00e6rt h\u00f8ye krav til instrumentet som skal anskaffes.","location_id":[],"estimatedValue":null,"type":"ANNOUNCEMENT_OF_INTENT","allTypes":["ANNOUNCEMENT_OF_INTENT","RESULT"],"status":null,"issueDate":"2018-10-24T10:00:00Z","deadline":null,"sentToTed":true,"publicationDate":"2018-10-24","placeOfPerformance":[],"procurementStrategicLabels":[]},{"id":"2018-140770","buyer":[{"id":"8fc0ca3c6e30f94c4354cee574e45260","organization_id":"974 767 880","name":"Norges Teknisk Naturvitenskapelige universitet (NTNU), Innkj\u00f8p"}],"heading":"Environmental Atomic Force Microscope","description":"Vi planlegger \u00e5 anskaffe et state-of-the art SPM instrument, inkludert programvare og drivere. Systemet vil bli brukt for \u00e5 studere de elektroniske nanoskala egenskapene til funksjonelle oksider ved h\u00f8ye temperaturer i en kontrollert atmosf\u00e6re. I tillegg til nanoskala oppl\u00f8sning av topografiske egenskaper i AFM-modus vil instrumentet gi mulighet til \u00e5 kartlegge et vidt spektrum av elektroniske egenskaper ved bruk av avanserte teknikker som f. eks. cAFM, PFM, MFM, KPFM, og EFM blant flere (see appendiks 1 for detaljer). Forskningen som skal gjennomf\u00f8res krever at eksperimentene blir gjennomf\u00f8rt ved temperaturer \u2273 280 oC, samtidig som atmosf\u00e6rens trykk og sammensetning (f. eks. argon, oksygen eller nitrogen) m\u00e5les og kontrolleres med h\u00f8y presisjon.","location_id":["NO060"],"estimatedValue":{"currencyCode":"NOK","amount":3680000.0},"type":"ANNOUNCEMENT_OF_COMPETITION","allTypes":["COMPETITION","ANNOUNCEMENT_OF_COMPETITION"],"status":"EXPIRED","issueDate":"2018-05-09T10:00:00Z","deadline":"2018-06-18T12:00:00Z","sentToTed":true,"publicationDate":"2018-05-09","placeOfPerformance":[],"procurementStrategicLabels":[]},{"id":"2018-327960","buyer":[{"id":"8fd04d823ee2e05cb645c8f294aae96a","organization_id":"974 767 880","name":"NTNU"}],"heading":"Atomkraftmikroskop","description":"NTNU NanoLab er en kjernefasilitet innenfor NorFab for h\u00f8yoppl\u00f8selig prosessering og karakterisering. Innkj\u00f8pet vil hovedsakelig st\u00f8tte h\u00f8yere utdanning og forskning for brukere av NorFab. M\u00e5let for innkj\u00f8pet er \u00e5 m\u00f8te behovet for brukere av NTNU NanoLab. Atomic Force Microscope (AFM) vil bli brukt som et karakteriseringsverkt\u00f8y som en del av en prosesslinje basert p\u00e5 fotolitografi, tynnfilm og EBL. Den vil ogs\u00e5 kunne h\u00e5ndtere en rekke andre type pr\u00f8ver innenfor et \"multibruker\"- milj\u00f8.","location_id":["NO060"],"estimatedValue":null,"type":"ANNOUNCEMENT_OF_CONCLUSION_OF_CONTRACT","allTypes":["ANNOUNCEMENT_OF_CONCLUSION_OF_CONTRACT","RESULT"],"status":null,"issueDate":"2018-09-11T10:00:00Z","deadline":null,"sentToTed":true,"publicationDate":"2018-09-11","placeOfPerformance":[],"procurementStrategicLabels":[]},{"id":"2018-162524","buyer":[{"id":"8fd04d823ee2e05cb645c8f294aae96a","organization_id":"974 767 880","name":"NTNU"}],"heading":"Atomkraftmikroskop","description":"NTNU NanoLab er en kjernefasilitet innenfor NorFab for h\u00f8yoppl\u00f8selig prosessering og karakterisering. Innkj\u00f8pet vil hovedsakelig st\u00f8tte h\u00f8yere utdanning og forskning for brukere av NorFab. M\u00e5let for innkj\u00f8pet er \u00e5 m\u00f8te behovet for brukere av NTNU NanoLab. Atomic Force Microscope (AFM) vil bli brukt som et karakteriseringsverkt\u00f8y som en del av en prosesslinje basert p\u00e5 fotolitografi, tynnfilm og EBL. Den vil ogs\u00e5 kunne h\u00e5ndtere en rekke andre type pr\u00f8ver innenfor et \"multibruker\"- milj\u00f8.","location_id":["NO060"],"estimatedValue":null,"type":"ANNOUNCEMENT_OF_COMPETITION","allTypes":["COMPETITION","ANNOUNCEMENT_OF_COMPETITION"],"status":"EXPIRED","issueDate":"2018-06-25T10:00:00Z","deadline":"2018-07-27T10:00:00Z","sentToTed":true,"publicationDate":"2018-06-25","placeOfPerformance":[],"procurementStrategicLabels":[]}]},"entities":[{"type":"procurement","id":"2018-358893","namespace":"doffin:notice","canonical_id":"doffin:notice:2018-358893","name":"Atomic Force Microscope","description":"UiT \u00f8nsker \u00e5 anskaffe et atomkraftmikroskop til bruk i forskning. Det er sv\u00e6rt h\u00f8ye krav til instrumentet som skal anskaffes.","source":"doffin","attributes":{"status":null},"relationships":[{"type":"buyer","target":{"type":"organization","id":"970 422 528","namespace":"no:orgnr","canonical_id":"no:orgnr:970 422 528","name":"UiT Norges arktiske universitet"}}],"_links":{"wiki":"https://allemannsdata.com/wiki/anskaffelse/2018-358893/","api":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/anskaffelser/2018-358893"}},{"type":"organization","id":"970 422 528","namespace":"no:orgnr","canonical_id":"no:orgnr:970 422 528","name":"UiT Norges arktiske universitet","description":"Buyer linked from the procurement notice.","source":"doffin","_links":{"wiki":"https://allemannsdata.com/wiki/selskap/970%20422%20528/","api":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/selskaper/970%20422%20528"}},{"type":"procurement","id":"2018-140770","namespace":"doffin:notice","canonical_id":"doffin:notice:2018-140770","name":"Environmental Atomic Force Microscope","description":"Vi planlegger \u00e5 anskaffe et state-of-the art SPM instrument, inkludert programvare og drivere. Systemet vil bli brukt for \u00e5 studere de elektroniske nanoskala egenskapene til funksjonelle oksider ved h\u00f8ye temperaturer i en kontrollert atmosf\u00e6re. I tillegg til nanoskala oppl\u00f8sning av topografiske egenskaper i AFM-modus vil instrumentet gi mulighet til \u00e5 kartlegge et vidt spektrum av elektroniske egenskaper ved bruk av avanserte teknikker som f. eks. cAFM, PFM, MFM, KPFM, og EFM blant flere (see appendiks 1 for detaljer). Forskningen som skal gjennomf\u00f8res krever at eksperimentene blir gjennomf\u00f8rt ved temperaturer \u2273 280 oC, samtidig som atmosf\u00e6rens trykk og sammensetning (f. eks. argon, oksygen eller nitrogen) m\u00e5les og kontrolleres med h\u00f8y presisjon.","source":"doffin","attributes":{"status":"EXPIRED"},"relationships":[{"type":"buyer","target":{"type":"organization","id":"974 767 880","namespace":"no:orgnr","canonical_id":"no:orgnr:974 767 880","name":"Norges Teknisk Naturvitenskapelige universitet (NTNU), Innkj\u00f8p"}}],"_links":{"wiki":"https://allemannsdata.com/wiki/anskaffelse/2018-140770/","api":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/anskaffelser/2018-140770"}},{"type":"organization","id":"974 767 880","namespace":"no:orgnr","canonical_id":"no:orgnr:974 767 880","name":"Norges Teknisk Naturvitenskapelige universitet (NTNU), Innkj\u00f8p","description":"Buyer linked from the procurement notice.","source":"doffin","_links":{"wiki":"https://allemannsdata.com/wiki/selskap/974%20767%20880/","api":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/selskaper/974%20767%20880"}},{"type":"procurement","id":"2018-327960","namespace":"doffin:notice","canonical_id":"doffin:notice:2018-327960","name":"Atomkraftmikroskop","description":"NTNU NanoLab er en kjernefasilitet innenfor NorFab for h\u00f8yoppl\u00f8selig prosessering og karakterisering. Innkj\u00f8pet vil hovedsakelig st\u00f8tte h\u00f8yere utdanning og forskning for brukere av NorFab. M\u00e5let for innkj\u00f8pet er \u00e5 m\u00f8te behovet for brukere av NTNU NanoLab. Atomic Force Microscope (AFM) vil bli brukt som et karakteriseringsverkt\u00f8y som en del av en prosesslinje basert p\u00e5 fotolitografi, tynnfilm og EBL. Den vil ogs\u00e5 kunne h\u00e5ndtere en rekke andre type pr\u00f8ver innenfor et \"multibruker\"- milj\u00f8.","source":"doffin","attributes":{"status":null},"relationships":[{"type":"buyer","target":{"type":"organization","id":"974 767 880","namespace":"no:orgnr","canonical_id":"no:orgnr:974 767 880","name":"NTNU"}}],"_links":{"wiki":"https://allemannsdata.com/wiki/anskaffelse/2018-327960/","api":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/anskaffelser/2018-327960"}},{"type":"procurement","id":"2018-162524","namespace":"doffin:notice","canonical_id":"doffin:notice:2018-162524","name":"Atomkraftmikroskop","description":"NTNU NanoLab er en kjernefasilitet innenfor NorFab for h\u00f8yoppl\u00f8selig prosessering og karakterisering. Innkj\u00f8pet vil hovedsakelig st\u00f8tte h\u00f8yere utdanning og forskning for brukere av NorFab. M\u00e5let for innkj\u00f8pet er \u00e5 m\u00f8te behovet for brukere av NTNU NanoLab. Atomic Force Microscope (AFM) vil bli brukt som et karakteriseringsverkt\u00f8y som en del av en prosesslinje basert p\u00e5 fotolitografi, tynnfilm og EBL. Den vil ogs\u00e5 kunne h\u00e5ndtere en rekke andre type pr\u00f8ver innenfor et \"multibruker\"- milj\u00f8.","source":"doffin","attributes":{"status":"EXPIRED"},"relationships":[{"type":"buyer","target":{"type":"organization","id":"974 767 880","namespace":"no:orgnr","canonical_id":"no:orgnr:974 767 880","name":"NTNU"}}],"_links":{"wiki":"https://allemannsdata.com/wiki/anskaffelse/2018-162524/","api":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/anskaffelser/2018-162524"}}],"_meta":{"retrieved_at":"2026-11-02T16:33:38Z","language":"en","content_languages":["en"],"sources":[{"id":"doffin","name":"Doffin and TED","description":"Search Norwegian and European public procurement, notices and CPV codes.","cache_ttl_seconds":60}],"cache":{"hit":false,"stored_at":"2026-11-02T16:33:38Z","expires_at":"2026-11-02T16:34:38Z","ttl_seconds":60,"remaining_ttl_seconds":60,"age_seconds":0,"scope":"process"},"result_count":4,"requested_limit":25,"possibly_truncated":false,"pagination":{"limit":25,"offset":0,"returned":4,"has_more_results":false,"next_offset":null,"total_available":4},"total_available":4,"response_size_ceiling_bytes":65536,"response_size_ceiling_enforced":true},"_provenance":{"data":{"source":"doffin","source_api":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/kilder/doffin"},"entities":{"source":"doffin","source_api":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/kilder/doffin","derived_from":"#/data","description":"Normalized projection of data."}},"_links":{"self":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/kilder/doffin/search_doffin?offset=0&query=Atomic+Force+Microscope","source":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/kilder/doffin","wiki":"https://allemannsdata.com/wiki/kilder/doffin/search_doffin/?query=Atomic+Force+Microscope&limit=25&offset=0","feedback":"https://allemannsdata.com/wiki/api/v1/feedback"},"output_fields":["total_count","hits","hits[].id","hits[].heading","hits[].description","hits[].buyer","hits[].buyer[].id","hits[].buyer[].organization_id","hits[].buyer[].name","hits[].type","hits[].allTypes","hits[].status","hits[].issueDate","hits[].deadline","hits[].publicationDate","hits[].sentToTed","hits[].estimatedValue","hits[].estimatedValue.currencyCode","hits[].estimatedValue.amount","hits[].location_id","hits[].placeOfPerformance","hits[].possible_placeholder","note","hits[].procurementStrategicLabels"],"output_fields_truncated":false,"canonical_field_aliases":{"identifier":["hits[].id","hits[].buyer[].id"],"name":["hits[].heading","hits[].buyer[].name"]}}